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ニュース
半導体分野 – ドライエッチングでのエンドポイントモニタ事業を国内集約
2008年12月15日
クリーンルーム内の極微量アンモアガス濃度計測装置、本格販売
2008年08月29日
粒子径測定装置（LA-950V2）を発売
2007年08月22日
米国シリコンバレーに『ホリバテクノロジーセンター』を開設
2007年07月05日
今春スタートの中国RoHS規制に、微小・高感度の多機種品揃えで完全対応
2007年02月27日
Readout English Edition No.12を発行:Readout English Edition No.12を発行致しました。今号はX線分析を対象技術とした堀場雅夫賞を特集した英文版です。JAIMA会長として強い思いを述べられた社長の巻頭言、高エネルギー放射光を用いた蛍光X線分析、共鳴X線非弾性散乱、蛍光X線／ラマン複合機、屈折X線による透過画像に関する各受賞論文と、X線技術と応用および研究開発経緯に関する各審査員の方々の講演内容を英文化しました。寄稿論文「製油所における試験室から分析機器メーカへの要望」の英文版も掲載しております。堀場雅夫賞とHORIBAの技術をWorldwideに発信する内容となっています。
2008年09月25日
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